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MARC状态：已编　 文献类型：中文图书　浏览次数：15　

题名/责任者:
国外集成电路测试自动化:(半导体器件生产自动化专辑)/上海科学技术情报研究所编辑
出版发行项:
上海:上海科学技术情报研究所,1977.9
ISBN及定价:
/CNY0.60
载体形态项:
74页;26cm
团体责任者:
上海科学技术情报研究所 编辑
中图法分类号:
TN307
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索书号 条码号 年卷期 校区—馆藏地 书刊状态
TN307/026 00100041   知行校区—新馆储备书库1     可借 架位
TN307/026 00100064   知行校区—新馆储备书库1     可借 架位
TN307/026 00435728   知行校区—新馆储备书库1     可借 架位
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